XPS
測(cè)試項(xiàng)目:原則上可以測(cè)試除H,He之外的元素,說(shuō)明如下:1. 元素的價(jià)態(tài)及半定量分析。小于1%的元素可能測(cè)不出明顯信號(hào)。2. 俄歇譜、價(jià)帶譜和刻蝕(<5nm)。刻蝕一般在5 nm以?xún)?nèi)。3. 含鐵鈷錳鎳元素的定性為磁性樣品,樣品含S,F(xiàn)ICP-OES/MS
測(cè)試項(xiàng)目:a. 溶液或粉末、固體樣品中金屬元素或者個(gè)別非金屬元素的含量;b. ICP-OES適用于測(cè)定濃度為ppm(ug/mL)級(jí)別的樣品,ICP-MS適用于測(cè)定濃度為ppb(ng/mL)級(jí)別的樣品;更多特殊樣品以及特殊金屬元素含量測(cè)試要求微區(qū)-XRD
有機(jī)元素分析儀