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測(cè)試項(xiàng)目：

a. 常規(guī)廣角: 5--90°，小角：0.5--10°;

b. 常規(guī)測(cè)試速率：10°/min、5°/min、2°/min;小角測(cè)試速率：1°/min, 0.5°/min;

更多測(cè)試要求請(qǐng)咨詢客戶經(jīng)理;

樣品要求：

1. 樣品狀態(tài)：可為粉末、塊狀、薄膜樣品。

2. 粉末樣品：顆粒一般不超過(guò)75微米，手摸無(wú)顆粒感，較大需要適當(dāng)研磨，樣品用量一般0.5g以上。

3. 塊狀、薄膜樣品：(1)至少有一表面為平整光潔平面。(2)若為立方體則平面長(zhǎng)寬≤20mm，且厚度范圍50微米～15毫米;(3)若為圓柱體則直徑≤20mm，高≤15mm;一定要標(biāo)明測(cè)試面!

常見問(wèn)題及回答：

1. 為什么要求XRD測(cè)試粉末樣品要稍微多一些?

因?yàn)榉勰悠芬仢M整個(gè)樣品臺(tái)，不然X射線可能會(huì)打在樣品臺(tái)上，影響數(shù)據(jù)質(zhì)量。

2. 為什么XRD測(cè)試要求薄膜(塊體)樣品尺寸要合適?

因?yàn)榉胖帽∧?塊體)樣品的樣品臺(tái)尺寸是固定的，用橡皮泥來(lái)固定樣品，樣品太大放不進(jìn)去，樣品臺(tái)小不好固定。

3. 為什么XRD數(shù)據(jù)的峰強(qiáng)度較低，甚至沒有明顯的衍射峰?

樣品的衍射峰強(qiáng)度最主要跟樣品本身的結(jié)晶度有關(guān)，其次跟樣品量以及儀器的功率都有關(guān)系。

結(jié)果展示：

測(cè)試結(jié)果給出的是RAW格式或txt格式測(cè)試結(jié)果。文本格式文件可以用Search match分析軟件打開，origin軟件作圖;RAW格式文件可以用jade分析軟件打開。