啊轻点灬大JI巴太粗熟妇,国产色爱AV资源综合区,国产欧美日韩专区发布,99久久精品免费看国产一区二区三区

介紹

掠入射X射線衍射(GIXRD)是一種讓X射線略過樣品表面的技術(shù)，能夠通過調(diào)節(jié)入射角度從而改變探測(cè)深度，對(duì)表面的靈感度可高達(dá)致幾nm，這種技術(shù)能夠更真實(shí)全面地表征出薄膜(特別是共輒聚合物薄膜)的微結(jié)構(gòu)。

優(yōu)勢(shì)

1.測(cè)試光是平行光，相對(duì)于常規(guī)的衍射光來說能量較小，因此掠入射測(cè)試XRD的譜圖絕對(duì)峰強(qiáng)相對(duì)較弱。但是平行光可以更好的關(guān)注薄膜表面的信息，也不容易測(cè)到基底，因此掠入射XRD專門用于測(cè)試薄膜樣品。

2.GIXRD的入射角非常小，導(dǎo)致X射線的穿透率減小，這樣衍射所反應(yīng)的表面物相形貌更加精確。掠入射X射線衍射適用于研究薄膜晶體結(jié)構(gòu)，不僅可以增強(qiáng)衍射峰信號(hào)，還可以得到三維結(jié)構(gòu)信息。

樣品要求

1.薄膜尺寸沒有特別要求，但是需要測(cè)試面平整光潔，不要有遮擋物，這樣測(cè)試結(jié)果才真實(shí)可信;

2.樣品整體長寬1cm;

3.鍍層或者薄膜厚度一般不要低于50nm，否則可能測(cè)不出信號(hào);

4.粉末、液體等其他無法測(cè)試。

結(jié)果展示