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介紹

X射線光電子能譜(XPS)是分析物質(zhì)表面化學(xué)性質(zhì)的一項技術(shù)，也作為電子材料與元器件顯微分析中的一種先進(jìn)分析技術(shù)，可測量材料中元素組成、經(jīng)驗公式、元素化學(xué)態(tài)和電子態(tài)，常常和俄歇電子能譜(AES)配合使用。

由于他可以比俄歇電子能譜技術(shù)更準(zhǔn)確地測量原子的內(nèi)層電子束縛能及其化學(xué)位移，所以它不但為化學(xué)研究提供分子結(jié)構(gòu)和原子價態(tài)方面的信息，還能為電子材料研究提供各種化合物的元素組成和含量、 化學(xué)狀態(tài)、分子結(jié)構(gòu)、化學(xué)鍵方面的信息。

優(yōu)勢

1.因為入射到樣品表面的X射線束是一種光子束，所以對樣品的破壞性非常小，這一點對分析有機(jī)材料和高分子材料非常有利。

2.它在分析電子材料時，不但可提供總體方面的化學(xué)信息，還能給出表面、微小區(qū)域和深度分布方面的信息。

應(yīng)用

XPS在各類功能薄膜的機(jī)理研究、納米材料、高分子材料、材料的腐蝕與防護(hù)、催化劑研究與失效分析等方面廣泛應(yīng)用。結(jié)合其它表征技術(shù)，可以對腐蝕、催化、包覆、氧化等過程進(jìn)行研究。

樣品要求

1.樣品物性/外形/尺寸：導(dǎo)體、半導(dǎo)體和絕緣體均可以。對絕緣體只適合粉末、薄膜、薄片，不適合塊體。半導(dǎo)體和絕緣體片狀樣品：厚度1毫米以內(nèi);

2.導(dǎo)體片狀樣品：厚度小于3 mm;長×寬的尺度范圍：6 mm×6mm 到10 mm×1 mm以內(nèi);

3.粉末樣品：重量在30 mg左右，體積大于0.2 ml;如果需要壓片時(有利于做定量分析)，送樣量(體積)應(yīng)適當(dāng)增加到0.75-1 ml。樣品要充分干燥，粉末盡量研細(xì)，樣品無磁性、無腐蝕性;

4.對于塊狀(不規(guī)則形狀時)樣品：需要送樣人將樣品加工成片狀，上下兩面最好互為平行面;

5.不能檢測放射性樣品。

結(jié)果展示