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X射線熒光光譜儀(XRF) 所屬欄目:能譜類(lèi)

測(cè)試項(xiàng)目:

可測(cè)元素范圍:11Na-92U


樣品要求:

1. 樣品狀態(tài):可為粉末、塊狀、薄膜樣品。

2. 粉末樣品:粉末樣品需要至少1 g ,最好3 g以上,樣品在測(cè)試之前盡量干燥,200目以下;含碳元素含量超過(guò)10%的樣品,請(qǐng)先將樣品燒成灰,再測(cè)試。

3. 塊狀、薄膜樣品:塊狀樣品必須有一邊大于2.5 cm,標(biāo)明測(cè)試面。


常見(jiàn)問(wèn)題及回答:

1、為什么要求XRF測(cè)試粉末樣品用量最好達(dá)到3 g以上?

因?yàn)樾枰偷矸垡黄饓浩?,如果樣品量太少的,需要加很多淀粉容易?dǎo)致結(jié)果不準(zhǔn)確。

2、為什么XRF測(cè)試要求薄膜(塊體)樣品尺寸直接要大于2.5 cm?

因?yàn)榉胖帽∧?塊體)樣品需要放進(jìn)測(cè)試槽,測(cè)試槽的直徑是2.5 cm,如果樣品太小會(huì)固定不了。

3、 XRF測(cè)試可以精確到多少?

XRF測(cè)試原則上可以精確到ppm級(jí)別的,但這個(gè)精度是基于標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)的,常規(guī)的XRF測(cè)試只是半定量測(cè)試,誤差不好判斷,僅作為元素含量百分比的參考。


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