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測試項目：

a. 粉末/薄膜/塊體/纖維樣品表面三維形貌拍攝和粗糙度測定

b. 納米片厚度測定

c. 生物樣品構(gòu)型

更多測試要求請咨詢客戶經(jīng)理。

樣品要求：

1. 樣品狀態(tài)：可為粉末、塊體、薄膜樣品。

2. 粉末樣品：顆粒一般不超過5微米，提供20mg，若尺寸過大請?zhí)崆白稍兛蛻艚?jīng)理。

3. 薄膜或塊狀樣品尺寸要求：長寬0.5-3cm之間，厚度0.1-1cm之間，表面粗糙度不超過5um，一定要標(biāo)明測試面!若尺寸過大請?zhí)崆白稍兛蛻艚?jīng)理。

常見問題及回答：

1、 為什么AFM測試樣品顆粒或者表面粗糙度不能過大?

因為尺寸過大，會碰到儀器探針針尖，針尖易磨鈍以及受污染，且磨損無法修復(fù)，污染則清洗困難。

2、 AFM拍攝不到自己想要的效果，表面形貌或粗糙度與自己預(yù)期不符合?

AFM拍攝也需要不斷尋找合適的位置拍攝，同一樣品不同拍攝部位表面形貌和粗糙度極有可能不一致，因為原子力顯微鏡成像范圍較小，與拍攝樣品表面是否均勻息息相關(guān)。

結(jié)果展示：

測試原始文件格式FLT格式或MDT格式可分別用Nanoscope analysis 和Nova 1138軟件打開。