400-650-9228
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球差校正透射電子顯微鏡
介紹球差校正透射電子顯微鏡是一種用于生物學(xué)、化學(xué)、物理學(xué)、農(nóng)學(xué)領(lǐng)域的分析儀器。以場發(fā)射電子發(fā)射體發(fā)射電子，通過電磁透鏡控制電子束匯集成很小的束斑并照射樣品，同時利用球差校正器將電磁透鏡中的球差消除，可將圖像的分辨率和分析能力提高到原子水平，
透射電子顯微鏡TEM
測試項目：可測項目：形貌、點掃、線掃、mapping、衍射備注：非磁、弱磁、強磁樣品均可拍攝樣品要求：1. 樣品狀態(tài)粉末、液體樣品均可，薄膜和塊體等無法直接測試，需要離子減薄、雙噴、FIB、切片制樣請?zhí)崆罢f明并確認。2. 樣品成分要求該說明
掃描電子顯微鏡SEM
測試項目：形貌、點掃、線掃、mapping備注：非磁、弱磁、強磁樣品均可拍攝樣品要求：一、制樣說明粉末、液體、薄膜、塊體均可測試，粉體樣品大概10mg，塊體樣品要求長寬小于1cm，厚度小于1cm。1、粉體樣品，常規(guī)粉末直接粘到導(dǎo)電膠上測試，
原子力顯微鏡AFM
測試項目：a. 粉末/薄膜/塊體/纖維樣品表面三維形貌拍攝和粗糙度測定b. 納米片厚度測定c. 生物樣品構(gòu)型更多測試要求請咨詢客戶經(jīng)理。樣品要求：1. 樣品狀態(tài)：可為粉末、塊體、薄膜樣品。2. 粉末樣品：顆粒一般不超過5微米，提供20mg，
中國第三方檢測與認證服務(wù)開拓者和領(lǐng)先者
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