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X射線探傷 所屬欄目:無損探傷

X射線能在無損檢驗技術(shù)中得到廣泛應用的主要原因是:它能穿透可見光不能穿透的物質(zhì);它在物質(zhì)中具有衰減作用和衰減規(guī)律;它能對某些物質(zhì)發(fā)生光化學作用、電離作用和熒光現(xiàn)象。而且這些作用都將隨著X射線強度的增加而增加。

X射線探傷是利用材料厚度不同對X射線吸收程度的差異,通過用X射線透視攝片法和工業(yè)電視實時成像,從軟片和成像上顯出材料、零部件及焊縫的內(nèi)部缺陷。如裂紋、縮孔、氣孔、夾渣、未溶合、未焊透等,確定位置和大小。根據(jù)觀察其缺陷的性質(zhì)、大小和部位來評定材料或制品的質(zhì)量,從而防止由于材料內(nèi)部缺陷、加工不良而引起的重大事故。

X射線探傷除照相法外,還有X射線熒光屏觀察法、電視觀察法。


X射線照相法

這種方法是用感光膠片代替熒光觀察法的熒光屏,當膠片被X射線照射而感光后,復經(jīng)顯影,即可顯現(xiàn)出不同的感光程度。若射線的強度越大,則膠片的感光越多,顯影后的黑度就越大。當某處與周圍對比的黑度較大時,則可確認存在缺陷。照相法的靈敏度高、適應性強,同時膠片可長期保存待查。但程序較多、費時、成本較高。


X射線熒光屏觀察法

X射線透過被檢查物體后,把不同強度的射線,再投射在涂有熒光物質(zhì)的熒光屏上,激發(fā)出不同強度的熒光而得到物體的影像。如果我們能直接從熒光屏上觀察缺陷影像,就稱為X射線熒光屏觀察法。


熒光屏觀察法與照相法的不同點:

熒光屏上所看到的缺陷影像是發(fā)亮的,而在底片上見到的缺陷影像是暗黑的;

前者不用暗室處理,因而暗室處理影響其影像質(zhì)量的因素不存在,但其它因素與照相法同;

熒光屏上的熒光物質(zhì)與照相法中增感屏上的熒光物質(zhì)不同,它要求這種物質(zhì)所發(fā)熒光對人的眼睛最靈敏。

熒光屏觀察法能對工件連續(xù)檢查,并能迅速得出結(jié)果。因此能節(jié)省大量的軟片與工時,成本低。但是,熒光屏觀察法的靈敏度要低一些。由于它不能像照相法那樣把射線的能量積累起來,它只能檢查較薄的結(jié)構(gòu)簡單的工件。

熒光屏觀察法所用的設備是X射線發(fā)生器及其控制設備;熒光觀察屏;觀察和記錄用的輔助沒備;防護及傳送設備等。


X射線電視觀察法

X射線照相法既費工時,又不經(jīng)濟,不適宜于批量生產(chǎn)的工廠。然而,X射線熒光屏觀察法由于成象的光亮度差、靈敏度低,并且大多在熒光透視箱內(nèi)進行,故也未廣泛采用。隨著光電微光技術(shù)的發(fā)展,微光象增強器和攝象管得到重視和廣泛應用。

X射線電視觀察法的優(yōu)點是可以直接觀察副物體內(nèi)部在靜態(tài)和動態(tài)下的情況,并能多次觀察;不需照相法那一套處理系統(tǒng);可以流水作業(yè);快速。

此法的不足之處是靈敏度比照相法低;圖象增強管接受輻射能量只達160kV左右,因而受到一定限制;由于泄露輻射的影響,檢測幾何形狀較為復雜的零件較為困難。


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